Atmega Mikrodenetleyicili Eski Transistör Test Cihazlarının Yenilenmesi ve Kullanımı
Platformumuzdaki en çok okunan ve popüler makaleleri görmek için Trendler bölümüne geçebilirsiniz.
Atmega mikrodenetleyici tabanlı eski transistör test cihazları, elektronik bileşenlerin hızlı ve pratik şekilde test edilmesi için tercih edilen araçlardır. Yaklaşık 6 yıldan uzun süredir kullanılan bu cihazlar, firmware optimizasyonları sayesinde sınırlı donanım kaynaklarından maksimum performans elde etmektedir. Özellikle USBasp cihazlarında kullanılan bitbanged USB tekniğine benzer şekilde, bu cihazların yazılımları oldukça etkileyici bir şekilde geliştirilmiştir.
Yenileme Süreci ve Donanım Güncellemeleri
Eski cihazların yenilenmesi sürecinde yeni ekran, yeni soket ve daha büyük kapasiteli batarya kullanımı yaygındır. Bu donanım güncellemeleri, cihazın kullanım ömrünü uzatmak ve kullanıcı deneyimini iyileştirmek amacıyla yapılmaktadır. Örneğin, orijinal cihazlarda bulunan zif soket yerine daha dayanıklı ve kullanışlı soketler takılabilir. Ayrıca, batarya kapasitesinin artırılması cihazın daha uzun süre kesintisiz çalışmasını sağlar.
Ayrıca Bakınız
Firmware ve Yazılım Geliştirme
Bu tür cihazların firmware'leri halen aktif olarak geliştirilmektedir. Açık kaynak kodlu projeler, kullanıcıların cihazın işlevselliğini artırmasına ve özelleştirmesine olanak tanır. Örneğin, kubi48 ve madires tarafından geliştirilen yazılımlar, cihazın ölçüm doğruluğunu ve kullanım alanlarını genişletmektedir.
Kullanım Alanları ve Ölçüm Özellikleri
Bu test cihazları, transistör pin çıkışlarını, kazançlarını, direnç, diyot voltaj düşüşü gibi parametreleri hızlıca ölçebilir. Ayrıca, özel olarak tasarlanmış cımbızlar ve kısa kablolar ile chip bileşenlerin tanımlanması mümkündür. Örneğin, masa üzerinde bulunan tanımlanamayan bir kondansatörün değeri kolaylıkla tespit edilebilir.
Ancak, cihazların doğruluk seviyesi sınırlıdır. 10-bit ADC kullanımı, ölçümlerde belirli bir hata payı oluşturur. Düşük kapasitans veya indüktans değerlerinde ölçüm sonuçları güvenilir olmayabilir. Ayrıca, cihazın dahili ADC referans gerilimi dış referans kadar stabil değildir. Bu nedenle, hassas ölçüm gerektiren uygulamalarda profesyonel LCR metreler tercih edilmelidir.
Dikkat Edilmesi Gerekenler
Kullanıcılar, büyük kapasitörlerin test edilmesi sırasında cihazı mutlaka boşaltmalıdır. Aksi takdirde, cihazın firmware'ine zarar gelerek kullanım dışı kalması riski vardır. Ayrıca, zener diyot testi sırasında da dikkatli olunmalıdır, çünkü yanlış kullanım cihazın arızalanmasına yol açabilir.
Bazı kullanıcılar, cihazın test portlarında garip direnç değerleri gözlemlemişlerdir. Örneğin, belirli portlarda sabit 75 ohm ek direnç algılanması gibi sorunlar yaşanmıştır. Bu tür sorunlar genellikle geçici olup, cihazın dinlenme süresi sonunda normale dönebilmektedir.
Donanım Modifikasyonları ve Geliştirme İmkanları
Bazı kullanıcılar, cihazın doğruluğunu artırmak için dirençlerin %1 toleranslı versiyonları ile değiştirilmesini önermektedir. Bununla birlikte, cihazın temel donanım yapısı ve ADC çözünürlüğü nedeniyle doğrulukta büyük iyileşmeler beklenmemelidir. Daha kapsamlı modifikasyonlar ise firmware üzerinde değişiklik yapmayı gerektirir ve ileri düzey elektronik bilgisi gerektirir.
Alternatif ve Tamamlayıcı Ölçüm Cihazları
150 dolar altı fiyat aralığında bileşen test cihazı arayanlar için bu tür Atmega tabanlı cihazlar uygun olabilir. Ancak, daha yüksek doğruluk ve kapsamlı ölçümler için DE-5000 gibi profesyonel LCR metreler önerilmektedir. Ayrıca, Fnirsi LCR-p1 gibi modeller de uygun fiyatlı alternatifler arasında yer almaktadır.
Atmega mikrodenetleyicili eski transistör test cihazları, yenilenebilir donanımları ve geliştirilebilir yazılımları ile elektronik bileşenlerin hızlı tanımlanması için pratik çözümler sunar. Ancak, ölçüm doğruluğu ve cihaz dayanıklılığı konusunda sınırlamalar mevcuttur ve kullanıcıların dikkatli olması gerekmektedir.
Kaynaklar:
